DIN EN 62418-2010 半导体器件.金属化应力空隙试验(IEC62418-2010);德文版本EN62418-2010

作者:标准资料网时间:2024-05-15 17:19:43 浏览:9188 来源:标准资料网

【英文标准名称】:Semiconductordevices-Metallizationstressvoidtest(IEC62418:2010);GermanversionEN62418:2010
【原文标准名称】:半导体器件.金属化应力空隙试验(IEC62418-2010);德文版本EN62418-2010
【标准号】:DINEN62418-2010
【标准状态】:现行
【国别】:德国
【发布日期】:2010-12
【实施或试行日期】:2010-12-01
【发布单位】:德国标准化学会(DE-DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:Aluminium;Coatings;Copper;Electricalengineering;Electronicequipmentandcomponents;Metalcoating;Metallicsurfaces;Migration;Reliability;Resistance;Semiconductordevices;Stress;Stresstests;Testtemperatures;Testing
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:25_220_40;31_080_01
【页数】:19P;A4
【正文语种】:德语

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标准名称：	膨润土
英文名称：	Bentonite
中标分类：	建材 >> 其他非金属矿制品 >> 其他非金属矿制品
ICS分类：	采矿和矿产品 >> 非金属矿
替代情况：	被GB/T 20973-2007代替
发布部门：	国家建筑材料工业局
发布日期：	1995-07-28
实施日期：	1996-01-01
首发日期：	1900-01-01
作废日期：	2008-01-01
提出单位：	国家建筑材料工业局
归口单位：	国家建筑材料工业局咸阳非金属矿研究设计院
起草单位：	咸阳非金属矿研究设计院
起草人：	刘安仁
出版社：	中国标准出版社
出版日期：	2004-04-22
页数：	4页
书号：	155066.2-10147