IEC 60749-30-2005 半导体器件.机械和气候试验方法.第30部分:可靠性试验之前不气密的表面安装器件的预调试

作者:标准资料网时间:2024-05-02 06:18:31 浏览:8937 来源:标准资料网

【英文标准名称】:Semiconductordevices-Mechanicalandclimatictestmethods-Part30:Preconditioningofnon-hermeticsurfacemountdevicespriortoreliabilitytesting
【原文标准名称】:半导体器件.机械和气候试验方法.第30部分:可靠性试验之前不气密的表面安装器件的预调试
【标准号】:IEC60749-30-2005
【标准状态】:现行
【国别】:国际
【发布日期】:2005-01
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际电工委员会(IX-IEC)
【起草单位】:IEC/TC47
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:定义;机械试验;可靠度;试验;元部件;耐力;电子设备及元件;电学测量;气候;半导体;表面安装;可靠性试验;电子工程;环境试验;集成电路;尺寸;温湿度预调节;表面安装设备;电气工程;半导体器件;气候试验;气候的
【英文主题词】:Atmosphericpressure;Changesoftemperature;Climate;Climatic;Climatictests;Components;Definitions;Dimensions;Electricalengineering;Electricalmeasurement;Electronicengineering;Electronicequipmentandcomponents;Environment;Environmentaltesting;Environmentaltests;Flammability;Heat;Integratedcircuits;Mechanicaltesting;Moisture;Preconditioning;Reliability;Reliabilitytesting;Resistance;Semiconductordevices;Semiconductors;SMD;Surfacemounting;Temperature;Testing;Tightness;Visualinspection(testing)
【摘要】:Establishesastandardprocedurefordeterminingthepreconditioningofnon-hermeticsurfacemountdevices(SMDs)priortoreliabilitytesting.Thetestmethoddefinesthepreconditioningflowfornon-hermeticsolid-stateSMDsrepresentativeofatypical
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:36P.;A4
【正文语种】:英语

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标准名称：	铝及铝合金阳极氧化膜检测方法第3部分：铜加速乙酸盐雾试验（CASS试验）
英文名称：	Test Methods for anodic oxidation coatings of aluminium and aluminium alloys - Part 3 : Copper accelerated acetic acid salt spray test（CASS test）
中标分类：	冶金 >> 金属理化性能试验方法 >> 金属理化性能试验方法综合
ICS分类：	机械制造 >> 表面处理和涂覆 >> 表面处理
替代情况：	替代GB/T 12967.3-1991
发布部门：	中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局中国国家标准化管理委员会
发布日期：	2008-06-09
实施日期：	2008-12-01
首发日期：	1991-06-04
作废日期：
主管部门：	中国有色金属工业协会
提出单位：	中国有色金属工业协会
归口单位：	全国有色金属标准化技术委员会
起草单位：	国家有色金属质量监督检验中心等
起草人：	徐杰、潘学著、何耀祖、夏秀群、郑梅玉等
出版社：	中国标准出版社
出版日期：	2008-12-01
页数：	平装16开/页数：12/字数：15千字
计划单号：	20061665-T-610