GB/T 20726-2006 半导体探测器X射线能谱仪通则
作者:标准资料网 时间:2024-05-08 16:47:24 浏览:9539
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基本信息
| 标准名称： | 半导体探测器X射线能谱仪通则 |
| 英文名称： | Instrumental specification for energy dispersive X-ray spectrometers with semiconductor detectors |
| 中标分类： | 仪器、仪表 >> 光学仪器 >> 电子光学与其他物理光学仪器 |
| ICS分类： | 化工技术 >> 分析化学 >> 有关化学分析方 |
| 发布部门： | 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会 |
| 发布日期： | 2006-12-25 |
| 实施日期： | 2007-08-01 |
| 首发日期： | 2006-12-25 |
| 作废日期： | |
| 主管部门： | 国家标准化管理委员会 |
| 提出单位： | 全国微束分析标准化技术委员会 |
| 归口单位： | 全国微束分析标准化技术委员会 |
| 起草单位： | 中国科学院地质与地球物理研究所 |
| 起草人： | 曾荣树、徐文东、毛骞、马玉光、范光 |
| 出版社： | 中国标准出版社 |
| 出版日期： | 2007-08-01 |
| 页数： | 平装16开 页数：11, 字数：14千字 |
| 计划单号： | 20030762-T-469 |
适用范围
本标准规定了表征以半导体探测器、前置放大器和信号处理系统为基本构成的X射线能谱仪特性最重要的量值。
前言
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目录
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引用标准
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所属分类： 仪器 仪表 光学仪器 电子光学与其他物理光学仪器 化工技术 分析化学 有关化学分析方
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