DIN EN 60749-29-2012 半导体设备.机械及气候试验方法.第29部分:封闭试验(IEC60749-29-2011).德文版EN60749-29-2011

作者:标准资料网时间:2024-05-20 14:33:03 浏览:9660 来源:标准资料网

【英文标准名称】:Semiconductordevices-Mechanicalandclimatictestmethods-Part29:Latch-uptest(IEC60749-29:2011);GermanversionEN60749-29:2011
【原文标准名称】:半导体设备.机械及气候试验方法.第29部分:封闭试验(IEC60749-29-2011).德文版EN60749-29-2011
【标准号】:DINEN60749-29-2012
【标准状态】:现行
【国别】:德国
【发布日期】:2012-01
【实施或试行日期】:2012-01-01
【发布单位】:德国标准化学会(DE-DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:Climatictests;Components;Definitions;Destructivetesting;Dimensions;Electricalengineering;Electricalmeasurement;Electronicengineering;Electronicequipmentandcomponents;Environmentaltesting;Failure;Integratedcircuits;Latch-up;Mechanicaltesting;Overvoltagetests;Reliability;Resistance;Resonators;Semiconductordevices;Testing;Testingdevices
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:27P;A4
【正文语种】:德语

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